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當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 銅厚測厚儀 > 牛津儀器 > CMI700牛津儀器CMI700銅厚測厚儀
 
                            
簡要描述:牛津儀器CMI700銅厚測厚儀專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測量。
 產(chǎn)品型號:CMI700
產(chǎn)品型號:CMI700  廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 更新時間:2022-12-07
更新時間:2022-12-07 訪  問  量:4000
訪  問  量:4000詳細(xì)介紹
牛津儀器CMI700銅厚測厚儀
產(chǎn)地:英國 品牌:牛津儀器 型號:CMI700
牛津儀器CMI700銅厚測厚儀技術(shù)參數(shù):
1、SCP-15面銅探頭測試技術(shù)參數(shù):  
銅厚測量范圍:
化學(xué)銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測試線寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準(zhǔn)確度:±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %;電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm 
 2、ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù): 
可測試zui小孔直徑:35 mils (899 μm)
測量厚度范圍:0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
電渦流原理:遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
準(zhǔn)確度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精確度:1.2 mil(30μm)時,達(dá)到1.0% (實(shí)驗(yàn)室情況下)
分辨率:0.01 mils (0.1μm) 
 
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